发光衰减

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衰减过程反映发光中心处于激发态的平均寿命。余辉持续时间的长短是套用发光体时的重要依据。

发光的衰减规律比较複杂。其中有两种常见的衰减形式：①指数衰减律。发光强度I(t)可用表示,其中 τ为平均发光时间，Io为起始发光强度,t为时间。分立中心发光体具有这种衰减规律，常称为单分子过程。在固体中各个发光中心所处的环境不同，通常表现为 τ值不同，衰减表示为几个指数函式之和。②双曲线衰减律。发光强度I(t)可用Io/(1+Qt)α表示,其中1<α<2。这种发光可以是由于任一被电离的发光中心与电离至导带的任一电子的複合而产生的，常称为双分子过程。但常见的衰减过程是两者的混合或更为複杂的过程，它们各自反映的发光过程可以用分时光谱技术分别加以研究。

根据套用时对发光余辉的不同要求，已有各种余辉的发光体,从超短余辉（余辉时间小于1微秒）的飞点扫描发光材料到超长余辉（余辉时间大于 1秒）作为雷达及长时照明的发光材料。这两类材料都需要引入特殊的杂质，前者引入快速猝灭中心，后者引入深陷阱中心。